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顿搁-贬308笔颁罢高压蒸煮老化试验箱依据GB/T 41203光伏组件封装材料加速老化试验方法设计生产，适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板，其他光伏组件封装材料参照使用。将试样放入高压蒸煮老化试验箱，试验条件如下∶试验温度121℃，相对湿度100%，光伏组件用玻璃试验时间宜为24h、48h、72h；封装胶膜推荐试验时间为24h、48h、72h；光伏背板试验时间宜为24h、48h。关闭箱门，运行

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